步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室用途及執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)

一、步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室用途

    適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)；

    是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測(cè)試設(shè)備；

    可編程恒溫恒濕試驗(yàn)箱特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗(yàn)。

二、步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)

GB/T10589-1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

GB/T10586-1989濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

GB/T10592-1989高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

GB2423.1-89低溫試驗(yàn)Aa，Ab；

GB2423.3-93（IEC68-2-3）恒定濕熱試驗(yàn)Ca；

MIL-STD810D方法502.2；

GB/T2423.4-93（MIL-STD810）方法507.2程序3；

GJB150.9-8濕熱試驗(yàn)；

GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環(huán)試驗(yàn)。